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產(chǎn)品中心分析表征設(shè)備形貌成分表征
系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測(cè)角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測(cè)器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測(cè)量，可執(zhí)行高精度全自動(dòng)物質(zhì)結(jié)構(gòu)測(cè)試分析任務(wù)
更新時(shí)間：2024-11-18
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